只有工序能力強的工藝才可能生產(chǎn)出質(zhì)量好、可靠性水平高的產(chǎn)品。工序能力指數(shù)是一種表示工藝水平高低的方便方法，其實質(zhì)作用是反映工藝成品率的高低。

    傳統(tǒng)工業(yè)生產(chǎn)對工序能力指數(shù) Cp 的要求是 Cp 值在 1 ~ 1.67 范圍內(nèi)均滿足要求，相應(yīng)的工藝成品率在 99.73% ~ 99.999971% 之間。如果 Cp 大于 1.67，認(rèn)為能力過剩，是一種資源浪費。但是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)以突破了這一傳統(tǒng)觀念。

    在傳統(tǒng)的工業(yè)生產(chǎn)中，如果工序能力指數(shù) Cp 大于 1.67，認(rèn)為工序能力過剩，是一種資源的浪費。但是，在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，特別是在現(xiàn)代電子元器件的生產(chǎn)中，工業(yè)不合格品率已降至PPM（Parts per million）水平，即只有百萬分之幾。期間失效率也降至幾十非特。為了滿足這種高質(zhì)量和高可靠水平元器件的生產(chǎn)要求，對工序能力指數(shù)的要求也隨之發(fā)生了變化。

    以微電子器件為代表的現(xiàn)代元器件生產(chǎn)一般包括幾十甚至上百道工序。在不合格品率很低的情況下，產(chǎn)品的不合格品率近似等于各道工序工藝不合格品率的總和。為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，要求單道工序的工藝不合格品率只能為幾個 PPM。因此，現(xiàn)代電子工業(yè)生產(chǎn)對生產(chǎn)線的要求時工序能力指數(shù) Cp 不低于 2.0 ，這樣，即使T0與μ偏離為 1.5σ ，實際工序能力指數(shù) Cpk 仍能達到 1.50，對應(yīng)的工藝不合格品率僅為 3.4PPM。

    在涉及工序能力指數(shù)的評價時，一定要明確所說的是 Cp 還是 Cpk，因為 μ 與 T0 之間不可避免地存在偏離。一般情況下偏離為 1.5σ，則 Cp 與 Cpk 相差達 0.5。例如傳統(tǒng)工序能力指數(shù)要求指的是潛在工序能力指數(shù) Cp，認(rèn)為 Cp 大于 1.67 為能力過剩。而且前國際上對現(xiàn)代電子工業(yè)生產(chǎn)工序能力指數(shù)要求的是實際工序能力指數(shù) Cpk不小于 1.5。

    如上所述，工序能力指數(shù) Cpk 的大小反映了工藝成品率的高低�，F(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對工序能力指數(shù)提出了 Cp 不小于 2.0 、Cpk 不小于 1.5 的要求，以保證工藝不合格品率不大于 3.5PPM。顯然，現(xiàn)代電子工業(yè)生產(chǎn)對工序能力指數(shù)的要求已突破了傳統(tǒng)概念的要求。